Получение слоев GexSi1-x на кремнии методом вакумных микроразмерных ростовых ячеек

Реферат, 09 Ноября 2012, автор: пользователь скрыл имя

Описание работы


Кремний – наиболее доступный, всесторонне исследованный и широко используемый в полупроводниковой электронике материал. Хорошо налажено получение кремниевых плоскопараллельных пластин диаметром до 300 мм и более с различно ориентированной поверхностью, обработанной до 14-го класса чистоты. Такие пластины являются подложечным материалом для формирования гетероструктур микро- и оптоэлектронного назначения и массово используются при получения эпитаксиальных слоёв кремния в производстве интегральных микросхем.

Файлы: 1 файл

Яценко-статья в ЖЭТФ -2011 с исправлениями С.В. Лозовского.docx

— 237.69 Кб (Просмотреть файл, Скачать файл)

Открыть текст работы Получение слоев GexSi1-x на кремнии методом вакумных микроразмерных ростовых ячеек