Автор работы: Пользователь скрыл имя, 01 Апреля 2011 в 12:46, реферат
Полупроводники, широкий класс веществ, характеризующихся значениями электропроводности s, промежуточными между электропроводностью металлов (s ~ 106—104ом-1 см-1) и хороших диэлектриков (s£ 10-10—10-12ом-1см-1, электропроводность указана при комнатной температуре). Характерной особенностью Полупроводники, отличающей их от металлов, является возрастание электропроводности s с ростом температуры, причём, как правило, в достаточно широком интервале температур возрастание происходит экспоненциально: s = s0ехр (-EA/кТ).
Рис. 6.
Различные типы нелинейных
зависимостей плотности
тока j = ennд от напряжённости
электрического поля
Е в полупроводниках;
а — насыщающаяся; б
— N-oбразная; в — S-oбразная.
Если в некоторой
области полей
дрейфовая скорость
убывает с ростом
поля Е, то равномерное
распределение тока
по образцу при полях,
больших некоторого
критического, оказывается
неустойчивым и вместо
него спонтанно возникают
движущиеся в направлении
тока области (домены),
в которых поле во много
раз больше, чем в остальной
части образца, а концентрация
носителей также сильно
отличается от её среднего
по образцу значения.
Прохождение доменов
сопровождается сильными
периодическими осцилляциями
тока. Полупроводники
в таких условиях является
генератором электрических
колебаний, иногда весьма
высокочастотных (~1011гц).
Это явление, связанное
с N-образной характеристикой
Полупроводники (рис. 6,
б), называется Ганна
эффектом и наблюдается
в GaAs n-типа и некоторых
соединениях типа AIIIBV.
Оно объясняется тем,
что электроны, находившиеся
в Г-минимуме зоны проводимости,
где их эффективная
масса мала, под действием
поля набирают энергию,
достаточно большую
(~0,35 эв) для перехода
в D-минимум, где эффективная
масса значительно больше,
в результате чего их
дрейфовая скорость
уменьшается.
В Полупроводники,
обладающих
Отклонения
от закона Ома, включая
и характеристики,
показанные на рис. 6,
могут быть вызваны
не только нелинейной
зависимостью uд от Е,
но и изменением концентрации
носителей под действием
электрического поля,
например из-за изменения
скорости захвата носителей
какими-либо примесями
в условиях разогрева
полем. Самым распространённым
механизмом изменения
концентрации носителей
в сильном поле является
ударная ионизация,
когда горячие носители,
набравшие энергию большую,
чем ширина запрещенной
зоны Полупроводники,
сталкиваясь с электронами
валентной зоны, выбрасывают
их в зону проводимости,
создавая тем самым
новые электронно-дырочные
пары.
В достаточно сильном
поле рожденные
в результате ударной
ионизации неравновесные
носители могут
за время своей
жизни также создать
новые пары, и тогда
процесс нарастания
концентрации носителей
принимает лавинообразный
характер, т. е.
происходит пробой.
В отличие от
пробоя диэлектриков,
пробой Полупроводники
не сопровождается
разрушением кристалла,
т.к. пробивные
поля для Полупроводники
с шириной запрещенной
зоны DE ~ 1—1,5 эв относительно
невелики (£ 105в/см, а
в InSb £ 250 в/см). Специфичный
для Полупроводники
пробой, связанный с
ударной ионизацией
примесей, имеющих малую
энергию ионизации,
при низких температурах
происходит в полях ~1—10
в/см.
Электрическое
поле может и непосредственно
переводить валентный
электрон в зону проводимости,
т. е. рождать электронно-дырочные
пары. Этот эффект имеет
квантовомеханическую
природу и связан с «просачиванием»
электрона под действием
внешнего поля через
запрещенную зону (см.
Туннельный эффект).
Он наблюдается обычно
лишь в весьма сильных
полях, тем больших,
чем шире запрещенная
зона. Такие поля, однако,
реализуются во многих
полупроводниковых
приборах; в ряде случаев
туннельный эффект определяет
характеристики этих
приборов (см. Туннельный
диод).
Экспериментальные
методы исследования
полупроводников (наиболее
распространённые).
Ширина запрещенной
зоны DE, так же как
и положение более
высоких разрешенных
зон, могут быть определены
из спектров собственного
поглощения или отражения
света. Оптические методы
особенно href ="../94/155.htm">эффективны
в сочетании с воздействиями
электрического поля,
деформацией кристалла
и др. (модуляционные
методы). Минимальная
ширина запрещенной
зоны определяется также
и по температурной
зависимости собственной
проводимости или по
положению красной границы
собственной фотопроводимости.
Наиболее полные и точные
сведения об эффективных
массах дают исследования
циклотронного резонанса
и магнитооптических
явлений (см. Магнитооптика).
Для Полупроводники,
в которых эти методы
не удаётся использовать,
например из-за малой
подвижности носителей,
оценить массу и плотности
состояний можно по
величине термоэдс.
В некоторых случаях
эффективны исследования
гальваномагнитных
явлений в сильных магнитных
полях, особенно в вырожденных
Полупроводники, где
наблюдаются различные
квантовые осцилляции
типа Шубникова — Де
Хааза эффекта. Основным
методом измерения концентрации
носителей и определения
их знака в случае примесной
проводимости является
эффект Холла. Знак носителей
может быть установлен
и по направлению термоэдс.
В сочетании с измерениями
проводимости эффект
Холла позволяет оценить
и подвижность носителей.
Положение примесных
уровней в запрещенной
зоне определяют по
красной границе фотопроводимости
или чаще по температурной
зависимости примесной
проводимости. Фотопроводимость,
а также инжекция с контактов
используются для определения
времени жизни и длины
диффузии неравновесных
носителей.
Л. В. Келдыш.
Историческая
справка. Хотя Полупроводники
как особый класс
материалов были известны
ещё к концу 19 в.,
только развитие квантовой
теории позволило
понять особенности
диэлектриков, Полупроводники
и металлов (Уилсон,
США, 1931). Задолго
до этого были обнаружены
такие важные свойства
Полупроводники, как
выпрямление тока
на контакте металл
— Полупроводники,
фотопроводимость и
др. и построены
первые приборы на
их основе. О. В. Лосев
доказал возможность
использования
Широкие исследования
Полупроводники в
СССР были начаты
ещё в конце
20-х гг. под руководством
А. Ф. Иоффе в
Физико-техническом
институте АН СССР.
Многие из основных
теоретических понятий
физики Полупроводники
впервые сформулировали
Я. И. Френкель,
И. Е. Тамм, Б.
И. Давыдов, Е.
Ф. Гросс, В.
А. Жузе, В. Е. Лашкарев,
В. М. Тучкевич и др. Они
же внесли значительный
вклад в изучение Полупроводники
и их техническое применение.
Лит.: Иоффе А. Ф., Физика
полупроводников, М.
— Л., 1957; Шокли В., Теория
электронных полупроводников,
пер. с англ., М., 1953; Смит
Р., Полупроводники,
пер. с англ., М., 1962; Полупроводники.
Сб. ст., под ред. Н. Б.
Хеннея, пер. с англ.,
М., 1962; Ансельм А. И.,
Введение в теорию полупроводников,
М. — Л., 1962; Блатт Ф.,
Физика электронной
проводимости в твердых
телах, пер. с англ., М., 1971;
Стильбанс Л. С., Физика
полупроводников, М., 1967;
Пикус Г. Е., Основы теории
полупроводниковых
приборов, М., 1965; Гутман
Ф., Лайонс Л., Органические
полупроводники, пер.
с англ., М., 1970; Остин
И., Илуэлл Д., Магнитные
полупроводники, «Успехи
физических наук», 1972,
т. 106, в. 2; Алексеев А.
А., Андреев А, А., Прохоренко
В. Я., Электрические
свойства жидких металлов
и полупроводников,
там же, т. 106, в. 3.