Автор работы: Пользователь скрыл имя, 20 Мая 2015 в 23:03, курсовая работа
Коли кількість атомів у наносистемі складає приблизно тисячу або десятків тисяч,властивості змінюються поступово від молеку-лярних до властивостей тіла.На жаль,рівень нашого розуміння ос-новних явищ таких систем залишається,недостатнім однозначних,відповідей івикористання.Актуальним є систематизація осно-вних фізико-хемічних характеристик розмірно-індукованої поведі-нки наноструктурних матеріялів з метою узагальнення і науково-обґрунтованих висновків.
Вступ………………………………………………………………………………3
Розділ I. Рентгенівський метод визначення розмірів кристалітів
1.1 Формула Дебая-Шеррера …………………………….……………....4
1.2 Короткий історичний нарис про авторів рентгенівського методу визначення розмірів мікрооб эктів ………………………….….……...14
Розділ II Використання рентгенівських методів для визначення розмірів наночастинок.
2.1 Отримання наночастинок сульфіду каднію……………………… 20
2.2 Визначення розмірів наночастинок на прикладі сульфіду каднію ………………………………………………………………………………21
Висновок…………………………………………………………………………26
Список використаних джерел………
Петер Джозеф Вільям Дебай
24 березня 1884, лауреат Нобелівської премії з хімії за 1936 рік.
З іменем Дебая пов'язана низка визначних досягнень в теоретичній й експериментальній фізиці, фізичній хімії, математиці. Він запропонував модель твердого тіла, на основі якої пояснив поведінку питомої теплоємності за низьких температур; характерна температура, нижче за яку істотного значення набувають квантові ефекти, отримала назву температури Дебая. Він теоретично описав вплив теплових коливань кристалічної ґратки на дифракцію рентгенівських променів (фактор Дебая — Валлера), спільно з Паулем Шеррером розробив порошковий метод рентгеноструктурного аналізу і використав методи рентгенівського розсіювання для дослідження структури рідин і окремих молекул. Дебай вперше спостерігав дифракцію світла на ультразвуці і використав метод розсіювання світла для дослідження структури молекул (зокрема полімерів) і критичних явищ. Він розвинув дипольну теорію діелектриків, на основі якої пояснив їх дисперсійні властивості і деякі аспекти міжмолекулярних взаємодій. Спільно з Еріхом Хюккелем він розробив теорію слабких розчинів сильних електролітів, на основі якої пояснив залежність коефіцієнтів активності і провідності від концентрації. Серед інших досягнень Дебая — розробка методу перевалу для обчислення деяких інтегралів спеціального вигляду; новий спосіб виведення формули Планка; створення квантової теорії нормального ефекту Зеемана; теоретичне обґрунтування ефекту Комптона, винайдення нового способу досягнення низьких температур методом адіабатичного розмагнічування.
Рентгенівський дифрактометр, прилад для виміру інтенсивності і напряму рентгенівського випромінювання, дифрагованого на кристалічному об'єкті. Р. д. застосовується для вирішення різних завдань рентгенівського структурного аналізу . Він дозволяє вимірювати інтенсивності дифрагованого в заданому напрямі випромінювання з точністю до 10-х доль відсотка і кути дифракції з точністю до 10-х доль хвилини. За допомогою Р. д. можна виробляти фазовий аналіз полікристалічних об'єктів і дослідження текстур, орієнтування монокристальних блоків, отримувати повний набір інтенсивностей віддзеркалень від монокристала, досліджувати структуру багатьох речовин за різних зовнішніх умов і так далі. Cкладається з джерела рентгенівського випромінювання рентгенівського гоніометра, в який поміщають досліджуваний зразок, детектора випромінювання і електронного реєструючого для вимірника пристрою. Детектором в Р. д. служить не фотоплівка, як в рентгенівській камері, а лічильники квантів (сцинтиляційні, пропорційні, напівпровідникові лічильники або Гейгера — Мюллера лічильники ) Дифракційну картину зразка в Р. д. отримують послідовно: лічильник переміщається в процесі виміру і реєструє енергію випромінювання за певний інтервал часу, що попала в нього. В порівнянні з рентгенівськими камерами Р. д. володіють вищою точністю, чутливістю, більшою експрессностью. Процес здобуття інформації в Р. д. може бути повністю автоматизований оскільки в нім відсутня необхідність прояву фотоплівки, причому в автоматичному Р. д. приладом управляють ЕОМ(електронна обчислювальна машина), отримані дані поступають на обробку в ЕОМ(електронна обчислювальна машина). Універсальні Р. д. можна використовувати для різних рентгеноструктурних досліджень, замінюючи приставки до гоніометричного пристрою. У великих лабораторіях застосовуються спеціалізовані дифрактометри, призначені для вирішення який-небудь одного завдання рентгеноструктурного аналізу. |
Информация о работе Рентгенівські методи визначення розмірів нанокристалів