Физические основы микроэлектроники

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 05 Ноября 2010 в 15:52, Не определен

Описание работы

Обзорный курс по микроэлектронике как науке

Файлы: 1 файл

ФОМ.doc

— 441.00 Кб (Скачать файл)

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

            

                 -9-

     Заключение

Наличие дислокаций в кристалле существенно сказывается  свойствах, характеристиках материала. Без учета этих дефектов невозможно уже представить многие области науки, связанные с кристаллами. Теория дислокации широко применяется нетолько  в материаловедении, но и в микроэлектролнике. И наряду с микронеоднородностью распределения примесей существование дислокаций является серьезным фактором, сдерживающим микроминиатюризацию интегральных элементов. Поэтому ведутся исследования по получению малобездислакационных кристаллов и на сегодняйший день удается получить практически бездислокационные кристаллы при выращивании их в условиях, свободных от физических напряжений, и при предельно малых температурных градиентах. В настоящее время в промышленных условиях изготавливаются малодислокационные полупроводниковые кристаллы с плотностью дислокаций порядка 102 см2.  
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

                 -10-  

Список используемой литературы:

Р.Хоникомб      Пластическая деформация металлов. Перевод с английского.

Фридель            Дислокации

Рид                    Дислокации в кристаллах  

Осипьян Ю.А.  Взаимодействие электронов с дислокациями в кристалле. 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

            -11-

Информация о работе Физические основы микроэлектроники