Расчёт и проетирование светодиода

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 18 Марта 2011 в 16:14, курсовая работа

Описание работы

Полупроводниковые светоизлучающие диоды (СИД) или светодиоды - это класс твердотельных приборов, в которых электрическая энергия непосредственно преобразуется в световую. В основе их действия лежит инжекционная электролюминесценция, эффективная в соединениях типа АIIIВV. Так же светодиоды решают задачу преобразования электрических сигналов в оптические, служат эффективными по КПД источниками света.

Файлы: 1 файл

РАСЧЕТ И ПРОЕКТИРОВАНИЕ СВЕТОДИОДА.doc

— 469.50 Кб (Скачать файл)

     Ω=2π(1-cosα/2), ср (2.3) 

     Тогда α(1ср)=65°32', α(πср)=120°, α(2πср)=180°, α(4πср)=360°. Угол α это и есть угол, приводимый изготовителями панели как угол наблюдения или угол излучения (viewing angle или radiation angle), определяемый по спаду силы света на 50%.

     2.2.3 Примерный расчет эффективности

 

     Теперь, зная приводимый изготовителями угол наблюдения, можно приблизительно определить световой поток СИД: F=IΩ.

     Для примера возьмем белый светодиод NSPL500S (Nichia) с углом наблюдения α1=15°. Тогда телесный угол, рассчитанный по формуле (2.3):  

     Ω=2π(1-cosα/2)=2*3,14(1-cos15/2)=0.0538 

     Сила  света этого СИД 6.4 кд. Значит световой поток, рассчитанный по (2.2) составит:  

     I=F/Ω, →F=I Ω= 6.4*0,0538=,0344лм.

     F1=0.344 лм. 

     Прямое  падение напряжения на СИД составляет 3.6 В при токе 20 mА. Следовательно, «закачиваемая» в СИД мощность составит: 

     P=U*I=3.6B*20mA=0.072Вт 

     а эффективность, в соответствии с (2.1) составит: 

     E1= F/P =0.344лм /0.072Вт=4.78 лм/Вт.

     2.2.4 Уточненный расчет эффективности

 

     Более точно телесный угол можно определить по диаграмме излучения, обычно приводимой изготовителями в полярных или декартовых координатах. Для СИД NSPL500S диаграмма  выглядит так: 

     

     Рисунок 2.1 Диаграмма излучения 

     Когда мы рассчитываем телесный угол по углу наблюдения, то предполагаем, что излучение  сосредоточено в прямоугольнике шириной 15 градусов, высотой единица  и площадью S1=15 условных единиц (прямоугольник с зеленой штриховкой). Но если рассчитать площадь под кривой диаграммы направленности (сосчитать интеграл), то она составит S2=17.5 условных единиц (на графике показан равный по площади прямоугольник с красной штриховкой). Это эффективный угол наблюдения. Следовательно, для более точного расчета нужно использовать угол α2=17.5°. Тогда: 

     Ω=2π(1-cosα/2)=2*3,14(1-cos17,5/2)=0.0731;

     I=F/Ω, →F=I Ω= 6.4.*0,0731=0,47лм;

     E2= F/P =0.47лм /0.072Вт=6.5 лм/Вт.

     Ω2=0.0731, F2=0.47 лм, E2=6.5 лм/вт.

 

     2.2.5 Расчет составляющих эффективности

     Общая эффективность светоизлучающего прибора  Е определяется двумя составляющими: энергетической эффективностью прибора Ee и световой эффективностью Ev.

     Первая  составляющая. Энергетическая эффективность  Ее - это отношение выходной оптической к входной электрической мощности. В англоязычной литературе для энергетической эффективности принято сокращение WPE (Wall-Plug-Efficiency). На рисунке показаны энергетические потери в светодиоде.  

     

     Рисунок 2.2 Схема энергетических потерь в  светодиоде. 

     Вторая  составляющая - это световая эффективность Ev. Слово «свет» предполагает наблюдателя  – человека. Спектр зрения человека ограничен диапазоном длин волн от 380 до 780 нм. Вне пределов этого диапазона слово «свет» неприменимо (хотя и употребляется, например инфракрасный или ультрафиолетовый свет вместо излучение). Мало того, чувствительность зрения к различным длинам волн различна и определяется т.н. кривой видности V(λ).

     Светодиод излучает не на одной длине волны, а в некотором промежутке длин волн. Интенсивность распределения оптической мощности в пределах этого промежутка описывается кривой, называемой энергетическим (или оптическим) спектром излучения Fe(λ). Оптическая мощность определяется площадью под кривой спектра и измеряется в ваттах. Для расчета световой мощности нужно перейти от энергетических величин (ватт) к световым (люменам), для чего необходимо перемножить энергетический спектр Fe(λ) на кривую видности – V(λ) (для выполнения данной операции используем приложение Microsoft Office – Excel ): 

     

     Рисунок 2.3 Графический расчет световой мощности 

     Тогда световая эффективность определится  как отношение световой мощности к оптической:  

     Ev=Fv/Fe (2.5) 

     где Fe, Fv - интегралы функций Fe(λ), Fv(λ).

     Максимальное  значение световой эффективности приходится на длину волны 555 нм и составляет 683 лм/вт.

     Теперь, зная энергетическую и световую эффективность, можно определить общую эффективность:  

     E=Ee*Ev (2.6) 

     На  рисунке 2.4 показана структурные составляющие эффективности светодиода: 

     

     Рисунок 2.4 Структурные составляющие эффективности  светодиода. 

     Вернемся  к примеру со светодиодом NSPL500S. Рассчитанная вышеуказанным способом световая эффективность этого светодиода составляет 320 лм/вт. Ранее рассчитанная общая эффективность составляет E=6.5 лм/вт. Тогда энергетическая эффективность, или КПД светодиода составит Ee=0.02 (вт/вт), или 2%.

     Энергетическая  эффективность светодиодного кристалла составляет от 5 до 20%. Существенная доля потерь связана с потерями фотонов при выводе из корпуса светодиода. Чем шире диаграмма направленности светодиода, тем меньше эти потери. Характерные значения КПД светодиодов - от 1 до 10%. Для сравнения, КПД парового двигателя 5 - 7%.

 

      2.2.6 Расчет инжекции не основных носителей тока

     В основе работы полупроводниковых светоизлучающих  диодов лежит ряд физических явлений, важнейшие из них: инжекция не основных носителей в активную область  структуры электронно-дырочным гомо- или гетеропереходом; излучательная рекомбинация инжектированных носителей в активной области структуры.

     Явление инжекции не основных носителей служит основным механизмом введения неравновесных  носителей в активную область  структуры светоизлучающих диодов (эти приборы часто называют инжекционными источниками света). Вопросы физики протекания инжекционного тока в р-n-переходах рассмотрены в работах Шокли и многих монографиях. В обобщенном виде инжекция носителей р-п-переходом может быть представлена следующим образом (рисунок 2.5).

     Когда в полупроводнике создается р-n-переход, то носители в его окрестностях распределяются таким образом, чтобы выровнять уровень Ферми. В области контакта слоев p- и n-типов электроны с доноров переходят на ближайшие акцепторы и образуется дипольный слой, состоящий из ионизованных положительных доноров на n-сторон и ионизованных отрицательных акцепторов на р-стороне. Электрическое поле дипольного слоя создает потенциальный барьер, препятствующий дальнейшей диффузии электрических зарядов [5].

     При подаче на р-n-переход электрического смещения в прямом направлении U потенциальный барьер понижается, вследствие чего в р-область войдет добавочное количество электронов, а в n-область - дырок. Такое диффузионное введение не основных носителей называется инжекцией. 

 

     

     

     

     І- зона проводимости; ІІ –запрещённая зона; ІІІ – валентная зона

     Рисунок 2.5 - Энергетическая диаграмма, поясняющая механизм действия инжекционного светодиода (а); его яркостная характеристика (б) и эквивалентная схема. 

     Концентрация  инжектированных электронов на границе р-n-перехода и р-области n'(хp) определяется выражением:

 

      п'(Хр)=np·exp(еU/kT),      (2.7) 

     где nр-концентрация равновесных электронов в р-области;

     k-константа Больцмана;

     Т-температура;

     e-заряд  электрона.

     Концентрация  инжектированных носителей зависит  только от равновесной концентрации не основных носителей и приложенного напряжения.

     Поскольку инжектированные носители рекомбинируют  с основными носителями соответствующей  области, то их концентрация п'р в зависимости от расстояния от р-n-перехода изменяется следующим образом (для электронов в р-области): 

     n'p=n(xp)exp[-(x-xp)/Ln],      (2.8) 

     где Ln - Диффузионная длина электронов.

     Как следует из формулы (2.8) концентрация избыточных носителей экспоненциально спадает по мере удаления от р-n-перехода и на расстоянии Ln (Lр) уменьшается в e раз, где e » 2,72 (основание натурального логарифма).

     Диффузионный  ток In, обусловленный рекомбинацией инжектированных электронов, описывается выражением: 

     In=eDnnp[exp(eU/kT)-1]/Ln    (2.9) 

     где Dn - коэффициент диффузии электронов. Диффузионный ток дырок In описывается аналогичным выражением. В случае, когда существенны оба компонента тока (электронный и дырочный), общий ток I описывается формулой: 

 

      I = (In0 + Iр0)·[exp(eU/kT) - 1],   (2.10) 

     где 

     In0 = eDn·np/Ln; Ip0=eDp*pn/Lp.   (2.11) 

     Особенность решения вопросов инжекции при конструировании  светоизлучающих диодов, в которых, как правило, одна из областей p-n-структуры оптически активна, т.е. обладает высоким внутренним квантовым выходом излучения, заключается в том, что для получения эффективной электролюминесценции вся инжекция неосновных носителей должна направляться в эту активную область, а инжекция в противоположную сторону-подавляться [4].

     Если  активна область р-типа, то необходимо, чтобы электронная составляющая диффузионного тока преобладала  над дырочной, а интенсивность  рекомбинации в области объемного  заряда была низка. Коэффициент инжекции gп , т.е. отношение электронной компоненты тока In0 к полному прямому току I=In0+Ip0, определяется по формуле: 

     gn=LpNd/[LpNd+(Dp/Dn)·LnNa],    (2.12) 

     где Nd и Na - концентрации доноров и акцепторов в л- и р -областях.

     Из  выражения (2.6) следует, что для получения величины gп, близкой к 1, необходимо, чтобы Nd>>Na, Lp>Ln, Dn>Dp. Решающую роль, безусловно, имеет обеспечение соотношения Nd>>Na. Однако повышение концентрации носителей в инжектирующей области имеет свои пределы. Как правило, значения Nd (или Na) не должны превышать (1-5)·I019 см-3, так как при более высоком уровне легирования возрастает концентрация дефектов в материале, что приводит к увеличению доли туннельного тока и ухудшению, тем самым, инжектирующих свойств р-n-перехода [2]. Как будет видно из дальнейшего изложения, для повышения внутреннего квантового выхода излучательной рекомбинации в прямозонных полупроводниках необходимо повышать концентрацию носителей и в активной области, в связи с чем возникают дополнительные трудности с обеспечением одностороннего характера инжекции. Таким образом, в гомопереходах существуют трудности по обеспечению высокого коэффициента инжекции носителей в активную область, обусловленные противоречивыми требованиями к легированию p- и n-областей структуры для достижения высокого коэффициента инжекции и максимального квантового выхода электролюминесценции в активной области. В некоторых полупроводниках высокий коэффициент инжекции носителей в одну из областей р-n-перехода может быть обеспечен разницей в подвижности электронов и дырок. Так, в GaAs и других прямозонных соединениях высокий коэффициент инжекции электронов в р-область может быть осуществлен за счет более высокой подвижности электронов.

Информация о работе Расчёт и проетирование светодиода