Автор работы: Пользователь скрыл имя, 25 Ноября 2011 в 15:12, курсовая работа
Полупроводники как особый класс веществ, были известны еще с конца XIX века, только развитие теории твердого тела позволила понять их особенность задолго до этого были обнаружены: эффект выпрямления тока на контакте металл-полупроводник; фотопроводимость.
1. Исходные данные……………………………………………………………………..…....3
2. Расчет температурной зависимости концентрации равновесных носителей заряда в собственном п/п …..………………………………………………………………………..…....4
3. Расчет температурной зависимости уровня Ферми в собственном п/п ….………...….7
4. Расчет температуры ионизации дононой примеси Тs и ионизации основного вещества Ti в п/п……………………………………………………………………….……….10
5. Расчет температуры ионизации Тs и Ti в акцепторном п/п…………………………...12
6. Расчет температурной зависимости положения уровня Ферми в дон. п/п…….…......17
7. Расчет критической концентрации вырождения донорной примеси………….……...18
8. Расчет равновесной концентрации основных и неосновных носителей тока….…….20
9. Нахождение высоты потенциального барьера равновесного р-n перехода…….….....21
10. Нахождение положение уровней Ферми в р-n переходе…………………………….....22
11. Нахождение толщины р-n перехода в равновесном состоянии………………………..23
12. Определение толщины пространственного заряда в р и n областях…………………..24
13. Построение графика 5 «Энергетическая диаграмма p-n-перехода в равновесном состоянии»……………………………………………………………………………………....25
14. Нахождение максимальной напряженности электрического поля в равновесном p-n-переходе………………………………………………………………….….26
15. Нахождение падение потенциала в p-n-областях пространственного заряда p-n- перехода………………………………………………………………………………………....27
16. Построение график 6 «Зависимость потенциала в p-n-областях от расстояния».........29
17. Вычисление барьерной емкости p-n-перехода………………………………………….30
18. Вычисление коэффициента диффузии для электронов и дырок……………………...31
19. Вычислить электропроводность и удельное сопротивление собственного п/п…......32
20. Определение величины плотности обратного тока p-n-перехода…………………….33
21. Построение обратной ветви ВАХ p-n-перехода……………………………………......34
22. Построить прямую ветвь ВАХ p-n-перехода...................................................................35
23. Вычислить отношение jпр/jобр……………………………………………………….....34
24. Список литературы……………………………………………………………………....36
ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования
ЧИТИНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
(ЧитГУ)
Институт Технологических и Транспортных Систем
Кафедра
Физики и Техники Связи
Курсовая работа
по физическим основам электроники
“Свойства
полупроводников, расчет характеристик
p-n перехода”
Вариант
№ 12
Выполнил студент группы ТКР-09
Эрдынеев Руслан Жамсоевич
Проверил:
доцент к. ф. м. н. Дружинин Анатолий Прокопьевич
Чита, 2010
Содержание
1. Исходные
данные………………………………………………………………
2. Расчет
температурной зависимости концентрации
равновесных носителей заряда в собственном
п/п …..………………………………………………………………………
3. Расчет температурной зависимости уровня Ферми в собственном п/п ….………...….7
4. Расчет
температуры ионизации дононой примеси
Тs и ионизации основного вещества
Ti в п/п………………………………………………………………………
5. Расчет температуры ионизации Тs и Ti в акцепторном п/п…………………………...12
6. Расчет температурной зависимости положения уровня Ферми в дон. п/п…….…......17
7. Расчет критической концентрации вырождения донорной примеси………….……...18
8. Расчет равновесной концентрации основных и неосновных носителей тока….…….20
9. Нахождение высоты потенциального барьера равновесного р-n перехода…….….....21
10. Нахождение положение уровней Ферми в р-n переходе…………………………….....22
11. Нахождение толщины р-n перехода в равновесном состоянии………………………..23
12. Определение толщины пространственного заряда в р и n областях…………………..24
13. Построение
графика 5 «Энергетическая диаграмма p-n-перехода
в равновесном
состоянии»……………………………………………………
14. Нахождение
максимальной напряженности электрического
поля
в равновесном p-n-переходе………………………………………………
15. Нахождение
падение потенциала в p-n-областях пространственного
заряда p-n- перехода…………………………………………………………
16. Построение график 6 «Зависимость потенциала в p-n-областях от расстояния».........29
17. Вычисление
барьерной емкости p-n-перехода………………………………………….
18. Вычисление коэффициента диффузии для электронов и дырок……………………...31
19. Вычислить электропроводность и удельное сопротивление собственного п/п…......32
20. Определение величины плотности обратного тока p-n-перехода…………………….33
21. Построение
обратной ветви ВАХ p-n-перехода……………………………………....
22. Построить
прямую ветвь ВАХ p-n-перехода..................
23. Вычислить
отношение jпр/jобр……………………………………………………….
24. Список
литературы……………………………………………………
Исходные данные:
Вар. |
DE, эВ | Nd = Na, м-3 | DEd, эВ | DEa, эВ | ε | mn,
|
mp,
|
tn=tp, секунд | ||
12 | 0,6 | 1023 | 0,02 | 0,01 | 0,7 | 0,3 | 14 | 1500 | 1000 | 200*10-6 |
Физические и математические постоянные:
№ | Название постоянной | Обозначение | Значение | Размерность |
1 | Постоянная Планка | h | 6,62607*10-34 | Дж*с |
2 | Элементарный заряд | q | 1,60217*10-19 | Кл |
3 | Масса покоя электрона | m0 | 9.10938*10-31 | кг |
4 | Постоянная Больцмана | K | 1,38065*10-23 | Дж/К |
5 | Число π | π | 3.14159 | - |
6 | Число е | е | 2,71828 | - |
7 | Электрическая постоянная | ε0 | 8,85418*10-12 | Ф/м |
Предварительные вычисления:
1) 1 электрон-вольт = 1,60217*10-19 джоуля
2) = 0.7*9.10938*10-31 = 6.37657*10-31 кг
3) = 0.3*9.10938*10-31 = 2.73282*10-31 кг
4) DE = 0,6*1,60217*10-19 = 9,61302*10-20 Дж
5) ∆Ed = 0,02 эВ = 0,02*1,60217*10-19 Дж = 3,20434*10-21 Дж
6) DEa = 0,01 эВ = 0,01*1,60217*10-19 Дж = 1,60217*10-21 Дж
7)
8)
1. Рассчитал температурную зависимость концентрации равновесных носителей заряда в собственном полупроводнике
Исходные формулы:
а) Получение расчётной формулы:
Пример:
при T=200 K
б) Результаты расчетов представил в таблице 1
T,K | KT,эВ | n0, м-3 | ln(n0) | |
75 | 0,013333333 | 0,646303·10-2 | 6,7475·103 | 8,81693 |
100 | 0,01 | 0,861738·10-2 | 1,1384·109 | 20,85291 |
120 | 0,008333333 | 1,034085·10-2 | 4,9539·1011 | 26,92862 |
150 | 0,006666667 | 1,292607·10-2 | 2,2919·1014 | 33,06556 |
200 | 0,005 | 1,723475·10-2 | 1,1681·1017 | 39,29931 |
300 | 0,003333333 | 2,585213·10-2 | 7,1037·1019 | 45,70974 |
400 | 0,0025 | 3,446950·10-2 | 1,9899·1021 | 49,04237 |
500 | 0,002 | 4,308688·10-2 | 1,5854·1022 | 51,11776 |
Таблица
1. Концентрация равновесных носителей
заряда в собственном полупроводнике
в) Построил
график зависимости равновесной конфигурации
носителей тока от температуры в координатах
График
1. Зависимость равновесной конфигурации
носителей тока от температуры
г) Проверил правильность построения графика, выполнив обратную задачу: используя значение tg (α), нашёл ширину запрещенной зоны полупроводника ∆Е, и сравнил с исходным значением ∆Е. Нашёл погрешность δ(∆Е).
δ(ΔЕ)=│
│*100%=│
│*100%=3.6 %
2. Рассчитал температурную зависимость уровня Ферми в собственном полупроводнике
Расчётная формула:
;
Пример: При Т = 100 К
Ef =
а) результаты расчетов представил в таблице 2.
Таблица 2. Зависимость Ef(T) в собственном полупроводнике
T, K | KT, эВ | Ef, эВ | Ef/Ef0*100% |
0 | 0 | 0,3 | 100 |
100 | 0,008617375 | 0,294523887 | 98,18 |
200 | 0,01723475 | 0,289047775 | 96,35 |
300 | 0,025852126 | 0,283571662 | 94,52 |
400 | 0,034469501 | 0,278095549 | 92,69 |
500 | 0,043086876 | 0,272619437 | 90,87 |
Информация о работе Свойства полупроводников, расчет характеристик p-n перехода