Рівні структури матеріалів

Наблюдать, измерять, анализировать структуру материала можно невооруженным глазом, а также с помощью различных световых и электронных микроскопов. При этом возрастает достигаемое увеличение изображения (от ~2 до ~200 000 раз) и выявляются новые детали структуры: от внешней формы образца, размера зерна в изломе – до отдельных дислокаций (и их ансамблей) при использовании трансмиссионного электронного микроскопа, и расположения атомных остовов – автоионного микроскопа.