Автор работы: Пользователь скрыл имя, 03 Мая 2013 в 06:17, курсовая работа
Подлинная история использования полупроводниковых преобразователей началась в 1958-м, когда на третьем советском в качестве источника энергии были установлены солнечные кремниевые батареи, с тех пор основной источник энергии в космосе. В 1974 году ученые приступили к промышленному производству солнечных батарей на гетероструктурах, тогда же этими батареями стали оснащаться искусственные спутники. Сейчас в мире идет работа над удвоением мощности солнечных фотоэлектрических установок. Это наиболее перспективный способ получения и использования энергии на Земле.
ВВЕДЕНИЕ 4
1 ОПИСАНИЕ ВНУТРЕННЕГО ФОТОЭФФЕКТА 5
1.1 Внутренний фотоэффект 5
1.2 Собственные и примесные электронные переходы 8
2 ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ВНУТРЕННЕГО ФОТОЭФФЕКТА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ФИЗИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН 15
2.1 Фотоэлектрические преобразователи 15
2.2 Датчики положения 22
2.3 Двухкоординатное измерение положения 25
2.4 Датчики шероховатости 28
3 ИСТОЧНИКИ ПОГРЕШНОСТЕЙ, ОГРАНИЧИВАЮЩИХ ТОЧНОСТЬ ИЗМЕРЕНИЙ НА ОСНОВЕ ВНУТРЕННЕГО ФОТОЭФФЕКТА 30
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 33
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ 34
При неработающем механизме отображающая оптика юстируется таким образом, чтобы на обе части pin-диода попадало излучение одинаковой интенсивности, т. е. 1А=IВ. Как только светодиод начинает перемещаться из-за вибраций механизма, интенсивность перераспределяется и нарушается равенство токов 1А и IВ. В итоге разность ΔI=[1А - IВ] оказывается мерой уровня вибрации механизма, которую можно оценивать при разных режимах работы. Важнейшие характеристики датчиков положения графически представлены на рисунке 2.10. Линейность измерения положения (рисунок 2.10, б) означает отклонение выходного сигнала от номинального значения (в процентах) при линейном смещении по всей длине датчика (в данном случае 30 мм). Это важнейшая характеристика соблюдается в пределах погрешности ±1 %.
Р - генератор фототока; D - идеальный диод; Сj- емкость рn-перехода; Rsh - сопротивление шунта; Rie - поверхностное сопротивление
Рисунок 2.10 Спектральная чувствительность (а), линейность измерения положения (б), температурная зависимость спектральной чувствительности (в) и эквивалентная схема (г) датчика положения
Типичными примерами применения оптических датчиков положения являются измерения протяженных объектов (например, туннелей, зданий, конструкций) с помощью луча лазера, направляемого на датчик. Отклонение луча от центра, датчика вследствие перемещений или вибраций может быть измерено с большой точностью.
Двухкоординатное измерение положения добавляет еще одну степень свободы при определении положения или размещении (позиционировании) объекта.
Датчик
этого типа состоит из активной поверхности
в форме квадрата, на каждой стороне
которого имеется по электроду (рисунок
2.11). Противоположные электроды
Рисунок 2.11 – Конструктивное исполнение двухкоординатного датчика положения
Рисунок 2.12 - Схема измерительного блока (вычислительная схема) двухкоординатного датчика положения
Сигналы Y1 и Y2 с помощью предусилителей согласуются с вычислительной схемой, формирующей отношение разности сигналов к их сумме. Процесс вычисления аналогичен осуществляемому в линейных датчиках положения. Благодаря дополнительной степени свободы (по оси X) осуществляется двухкоординатное измерение положения.
Линейность XY-позиционирования показана на рисунке 2.13. Она представляет собой меру точности определения положения. Область применения датчиков этого типа в принципе та же, что и у линейных.
Рисунок 2.13 - Типичная линейность измерения положения
Контроль качества поверхности деталей при автоматизированном производстве оказывается возможным благодаря применению линейных датчиков изображения (или последовательного ряда фотодиодов). На рисунке 2.14 иллюстрируется принципиальное устройство датчика шероховатости (тип RM400S, фирма Rodenstock). Действие этого датчика основано на измерении светорассеяния.
Пучок света, испускаемый ИК-светодиодом (λ0= 810 нм), фокусируется объективом на детали. Световое пятно на поверхности детали обычно имеет размер около 1,8 мм, а в специальных случаях – 0,2...4 мм. В зависимости от качества поверхности обследуемого объекта в зоне светового пятна происходит рассеяние света, который с помощью светоделительной пластинки направляется на датчик изображения. Дисперсия распределения рассеянного света дает характеристику оптической шероховатости поверхности SN
где i - номер фотодиода;
pi - интенсивность, регистрируемая i-м фотодиодом;
- номер фотодиода, усредненного по интенсивности;
g - нормирующий множитель.
Расчет выполняется, естественно, микропроцессором, позволяющим обрабатывать около 20 измерений за 1 с.
На рисунке
2.14 изображены поверхности различного
качества, характерные для деталей,
изготовленных точением, шлифованием
и прокаткой. При точении и
шлифовании получается равномерный
бороздчатый профиль, тогда как
прокатанная поверхность имеет
нерегулярный рельеф. Это различие
отчетливо проявляется в
Рисунок 2.14
- Внешний вид поверхности
Оптические характеристики шероховатости SN точеной и шлифованной поверхностей, определенные по кривым распределения светорассеяния (рисунок 2.14) отличаются незначительно (72 и 78 соответственно), тогда как для прокатанной поверхности SN=48.[2]
3. ИСТОЧНИКИ
ПОГРЕШНОСТЕЙ, ОГРАНИЧИВАЮЩИХ ТОЧНЛСТЬ
ИЗМЕРЕНИЙ НА ОСНОВЕ
3.1 Фотоэлектрические преобразователи
Главным
недостатком
Преобразователи чувствительны к силе света и его цвету. Их недостатком является большая погрешность, которая в основном определяется усталостью, старением и зависимостью параметров преобразователя от температуры
Для уменьшения
погрешности измерения
Рисунок 3.1 - Дифференциальная схема с двумя фотоэлектрическими преобразователями, служащая для измерения концентрации раствора.
Первый луч света от источника 1 проходит через объект измерения 2, например, через кювету с исследуемым раствором, и попадает на фоторезистор 3. Второй луч проходит через применяемый для настройки прибора оптический клин 4 и попадает на второй фоторезистор 5. Фоторезисторы включены в мостовую цепь. Благодаря дифференциальной схеме компенсируются температурные и другие аддитивные погрешности. Однако вследствие разброса характеристик и параметров фотоэлектрических преобразователей каналы дифференциальной цепи несколько отличаются друг от друга, и компенсация г получается неполной. Достоинством схемы является ее пригодность для измерения быстро переменных величин. Инерционность прибора обусловливается инерционностью фотоэлектрических преобразователей и выходного прибора.
Меньшую
погрешность имеют
Рисунок 3.2 - Дифференциальные схемы с одним фотоэлектрическим преобразователем
где Фп — световой поток, прошедший через объект измерения 3; Ф0 — образцовый световой поток, прошедший через оптический клин 4.
Переменная составляющая светового потока преобразуется в переменное напряжение и усиливается. В рассматриваемом приборе оба канала дифференциальной измерительной цепи различаются меньше, чем в предыдущем, и лучше компенсируются аддитивные погрешности.
Вследствие модуляции светового луча уменьшается частотный диапазон прибора, увеличивается его инерционность. При таком способе измерения измеряемый частотный диапазон ограничивается частотой модуляции, причем верхняя частота диапазона должна быть на порядок меньше частоты модуляции. В качестве оптического модулятора обычно применяется электромеханическое устройство. Его использование усложняет прибор и уменьшает надежность.
Дифференциальные оптические приборы могут использоваться как приборы с ручной компенсацией. В этом случае оптический клин соединяется со стрелкой, перемещающейся по шкале прибора. При измерении оптический клин перемещается до тех пор, пока выходное напряжение (ивых на рисунке 3.1) и переменная составляющая напряжения на рис 3.2, а) не будут равны нулю. При этом измерительный и образцовый световые потоки равны между собой, и по положению оптического клина можно судить о значении измеряемой величины.
В приборах с автоматической компенсацией напряжение, пропорциональное разности световых потоков ДФ, подается на реверсивный двигатель, который автоматически перемещает оптический клин в нужную сторону.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
В данной курсовой работе были изложены общие характеристики явления внутреннего фотоэффекта и его применение в электронике и измерительной технике, а так же основные устройства, принцип работы которых основан на данном явлении. Здесь описываются основные источники погрешности, ограничивающие точность измерения на основе данного эффекта.
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ
Информация о работе Использование внутреннего фотоэффекта для измерения физических величин