Автор работы: Пользователь скрыл имя, 20 Октября 2010 в 21:31, Не определен
Реферат
Выбираем резистор типа МЛТ-0,5.
9) Находим величину сопротивлений R1 и R2. Сопротивления делителей R1 и R2 обеспечивают устойчивость рабочих точек транзисторов по базовым цепям. Поэтому токи делителей должны быть больше токов баз в А раз, причем А в большинстве случаев можно принять равным А=3 – 5.
Принимаем А=5. Тогда
Величину сопротивлений R1 находим по формуле:
Ом (4.14)
Принимаем номинальное R1=10 кОм.
Мощность, рассеиваемая на резисторах R1, равна:
Вт.
Выбираем резисторы типа УЛМ-0,12.
Находим R2:
Ом (4.15)
Принимаем R2=12 кОм
Мощность, рассеиваемая на резисторах R2, равна:
Вт.
и выбираем резисторы типа УЛМ-0,12.
10) Находим входное
сопротивление каскада R’вх без
учета влияния сопротивлений R1 и R2:
11) Определяем сопротивления Rд делителей между базами транзисторов:
12) Находим результирующее входное сопротивление Rвх. Сопротивления R’вх и Rд включены параллельно . Поэтому
Составляем
схему рассчитанного каскада [4].
Рисунок
4.2 – Схема транзисторного усилителя
5
Определение метрологических
характеристик измерительного
канала
Под метрологическим обеспечением ИИС понимается комплекс мер, направленных на достижение и поддержание в этих системах требуемой точности измерений.
Наиболее
важной и ответственной частью метрологического
обеспечения является определение
комплекса метрологических
Метод
установления и определения метрологических
характеристик измерительных
Метрологические
характеристики измерительного канала
разработанной информационно
Рисунок
6 - Схема измерительного канала
− Основная погрешность датчика видимого светового излучения LUX LITE составляет 0,14%. Для того, чтобы перейти от этого значения к с.к.о., необходимо знать закон распределения погрешности. Будем считать закон распределения погрешности равномерным. Тогда с.к.о.:
− Погрешность от наводки посторонних напряжений можно не учитывать, т.к. используемый кабель экранирован.
− Основная погрешность модуля АДАМ – 5017 нормирована и равна 0,1%. Будем считать закон распределения погрешности равномерным. Тогда с.к.о.:
− Погрешность, вызванная колебаниями напряжения питания составляет ±15% и имеет треугольный закон распределения, а значит с.к.о.:
− Погрешность коэффициента усилителя распределена по треугольному закону. Ее максимальное значение составляет γm= 0,03%∙15=0,45%, а с.к.о.:
− погрешность датчика видимого светового излучения LUX LITE в его паспорте составляет 0,05%. Закон распределения погрешности будем считать нормальным. Тогда с.к.о. составляет:
Таким
образом, при известных значениях
погрешностей вносимых каждым компонентом
разработанного канала можно рассчитать
суммарную погрешность всего канала в
целом:
Состояние
метрологического обеспечения ИИС
анализируют для установления соответствия
разрабатываемых систем требованиям нормативных
документов [3].
Заключение
Представленные в обзоре средства контроля светового излучения являются неотъемлемой частью многих систем автоматизации производства, поэтому от их метрологических параметров, функциональных возможностей и эксплуатационной надёжности в значительной степени зависят качество и эффективность этих систем.
В промышленности лидерами среди устройств контроля уровня являются датчики ИК - излучения из-за своей низкой стоимости, простоты и достаточной надёжности, а также датчики на основе фотодиодов, отличающиеся более широкими функциональными возможностями. Однако приведённые описания других методов содержат свои достоинства и недостатки, позволяющие использовать их в устройствах контроля предельного уровня для различных применений [7].
Разработанная ИИС удаленного действия для контроля светового излучения полностью соответствует исходным данным, представленным в задании.
Можно выделить круг задач, связанных с совершенствованием основных метрологических характеристик ИИС в рамках выполняемых ими функций. К этому относится дальнейшее повышение точности, быстродействия, чувствительности, надежности ИИС.
Прогнозируя развитие ИИС, следует обратить внимание в первую очередь на возможность расширения выполняемых ими функции и связанное с этим обстоятельством изменение функциональных устройств и структур ИИС. Также дальнейшее развитие должны получить системы выполняющие измерение и контроль при отсутствии сведений или при приближенном знании о виде исследуемых величин и характере взаимосвязей между ними. Анализ информативности и измерение наиболее информативных величин, адаптация к динамическому, частотному диапазону исследуемых величин обуславливает получение их более точной количественной оценки и необходимых метрологических характеристик.
Важным фактором при проектировании современных ИИС на сегодняшний момент является использование системного оборудования (стандартных интерфейсов, компьютеров). Однако необходимо иметь ввиду, что изменение характеристик и возможностей системного оборудования может привести к существенному изменению структурных и алгоритмических принципов построения систем.
В
процессе проектирования должны быть
обязательно предусмотрены
Выполнение
всех выше перечисленных функций
и задач – будущее направление
развития информационно измерительных
систем.
Список
литературы