Рівні структури матеріалів

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 25 Октября 2017 в 14:51, реферат

Описание работы

Наблюдать, измерять, анализировать структуру материала можно невооруженным глазом, а также с помощью различных световых и электронных микроскопов. При этом возрастает достигаемое увеличение изображения (от ~2 до ~200 000 раз) и выявляются новые детали структуры: от внешней формы образца, размера зерна в изломе – до отдельных дислокаций (и их ансамблей) при использовании трансмиссионного электронного микроскопа, и расположения атомных остовов – автоионного микроскопа.